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        深圳市威特瑞科技有限公司 >>最新信息>>文章内容

二、三极管等半导体器件损坏的特点

发布人:威特瑞 浏览 271 次【字号 】 发布时间:2009年2月20日 打印本页

    

  二、三极管的损坏一般是PN结击穿或开路,其中以击穿短路居多。此外还有两种损坏表现:一是热稳定性变差,表现为开机时正常,工作一段时间后,发生软击 穿;另一种是PN结的特性变差,用万用表R×1k测 ,各PN结均正常,但上机后不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程档测,就会发现其PN结正向阻值比正常值大。测量二、三极管可以用指针万用表在路测量,较准确的方法是:将万用表置R×10或R×1档(一般用R×10档,不明显时再用R×1档)在路测二、三极管的PN结正、反向电阻,如果正向电阻不太大(相对正常值),反向电阻足够大(相对正向值),表明该PN结正常,反之就值得怀疑,需焊下后再测。这是因为一般电路的二、三极管外围电阻大多在几百、几千欧以上,用万用表低阻值档在路测量,可以基本忽略外围电阻对PN结电阻的影响。

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发布人:威特瑞 发布时间:2009年2月20日 已被浏览 271
   
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